双变频抗干扰介质损耗测试仪厂家
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双变频抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。
双变频抗干扰介质损耗测试仪
介损和电容量测量
准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF）
tgδ: ±（读数×1%+0.00040）
抗干扰指标： 变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度
电容量范围： 内施高压： 3pF~60000pF/10kV 60pF~1.2μF/0.5kV
外施高压： 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率： 最gao0.001pF，4位有效数字
tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围：10μA~5A
内施高压： 设定电压范围： 0.5~10kV
最大输出电流： 200mA
升降压方式： 连续平滑调节
电压精度： ±(1.5%×读数+10V)
电压分辨率： 1V
试验频率： 45~65Hz整数频率
49/51Hz、45/55Hz自动双变频
频率精度：±0.01Hz
外施高压： 正接线时最大试验电流1A / 40~70Hz
反接线时最大试验电流10kV / 1A / 40~70Hz
CVT自激法低压输出：输出电压3~50V，输出电流3~30A
注：以上信息及技术参数来源于扬州达瑞电气有限公司整理发布
